Diffraction X haute résolution : les secrets de la liaison chimique révélés

La cristallographie et la diffraction des rayons~X sont incontournables pour la détermination et l’analyse de la structure cristalline dans des conditions d’équilibre thermodynamique. L’analyse de densité électronique par diffraction de rayons~X à haute résolution permet par ailleurs une modélisation expérimentale fine de la liaison chimique et des propriétés électrostatiques comme le montrent les trois exemples présentés dans cet article. Les développements récents permettent d’envisager des études de matériaux hors équilibre dans des états excités transitoires de très courte durée de vie.